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NXI數據采集與測量系統是基于NXI架構開發的模塊化數據采集與測量平臺，用于自動收集、處理并記錄來自物理世界的各種信號和事件。該系統通過傳感器、轉換器和其他調理組件將模擬信號轉換為數字信息，進而實現對復雜過程的有效監控和管理。可廣泛應用于新能源、汽車電子、工業自動化、科學研究等多個領域。
STS6200數字集成電路測試系統特點 最高測試速率200MHz,存儲深度128M。 具備512通道高速數字管腳,支持48通道高壓選配。 百皮秒級定時邊沿分辨率,提供精確的時序波形。 內置Per Pin TMU單元,具備納秒級時間參數測試能力。
STS8205混合信號測試系統適用于通用A/D轉換器、D/A轉換器、模擬開關、運算放大器（含功率運放）、電壓比較器、電源管理器件（電壓調整器、多端智能穩壓器、精密電壓基準、脈寬調制器PWM、DC轉換控制電路、電源監控電路等）、數字電位計、驅動電路、收發器、壓頻/頻壓轉換器、采樣保持器、電壓跟隨器、時基電路、達林頓陣列等模擬與混合類器件的交、直流參數測試。
STS8203S半導體分立器件測試系統北京華峰測控技術股份有限公司在全新一代測試系統STS8200測試平臺上開發的系列測試產品之一。本系統可用于各類二極管、三極管、絕緣柵型場效應管、結型場效應管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類分立器件的功能和交參數測試。
STS8204S繼電器綜合參數測試系統是北京華峰測控技術有限公司開發的STS8200系列測試產品之一。系統用于中小型電磁繼電器常規參數、絕緣參數的測試，也可用于固體繼電器直流參數和開關時間參數的測試，
NX2020功率器件雪崩耐量測試系統是測試N/P溝道型IGBT、MOSFET、二極管雪崩耐量的專業測試設備，系統滿足美軍標MIL-STD-750F·3470，能夠準確快速的測試出IGBT、MOS、二極管的雪崩耐量。
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