吉時(shí)利DAQ6510數(shù)據(jù)采集記錄萬用表

吉時(shí)利DAQ6510數(shù)據(jù)采集記錄萬用表

DAQ6510 具有觸摸屏用戶界面，可在儀器上更快完成設(shè)置、實(shí)時(shí)監(jiān)控測試狀態(tài)以及分析詳細(xì)數(shù)據(jù)，從而實(shí)現(xiàn)簡單性。

吉時(shí)利DAQ6510數(shù)據(jù)采集記錄萬用表概述：

減少測試設(shè)置、執(zhí)行和分析時(shí)間

配置

監(jiān)視器

分析

設(shè)置和運(yùn)行測試簡單快速，無需編寫測試程序。 DAQ6510 數(shù)據(jù)采集和記錄萬用表系統(tǒng)的直觀觸摸屏能夠提供簡單的配置，以及可視的直觀測試設(shè)置、實(shí)時(shí)的掃描狀態(tài)可視信息，可盡早捕捉問題以避免丟失測試時(shí)間，便于分析測試數(shù)據(jù)。

特點(diǎn)

• 配置：使用一個(gè)測量和掃描配置菜單設(shè)置具有多種測量功能的多通道掃描。
• 運(yùn)行和監(jiān)視：在測試過程中顯示掃描進(jìn)度，即時(shí)查看超出范圍的測量結(jié)果和超出的限制。
• 分析：使用繪圖和統(tǒng)計(jì)功能顯示和分析結(jié)果。 使用觸摸屏的手指開合縮放功能深入研究結(jié)果。 使用光標(biāo)計(jì)算關(guān)于數(shù)據(jù)段的統(tǒng)計(jì)信息。

輕松進(jìn)行環(huán)境測試和加速的使用壽命測試

使用觸摸屏顯示器快速設(shè)置有統(tǒng)計(jì)意義的設(shè)備數(shù)量的測試。 在測試過程中監(jiān)視測試狀態(tài)。 在觸摸屏上查看圖形或表格形式的數(shù)據(jù)。

特點(diǎn)

• 使用單個(gè) DAQ6510 主機(jī)在一個(gè)設(shè)置下測試多達(dá) 80 個(gè)設(shè)備。
• 如有必要，可使用 TSP-Link® 接口擴(kuò)展至更多的通道，以連接并控制多臺(tái) DAQ6510 主機(jī)。
• 通過使用 8 種不同熱電偶、5 種不同 RTD 或 3 種不同熱敏電阻中的任一項(xiàng)，可監(jiān)視 -200°C 至 1820°C 范圍內(nèi)的溫度。
• 設(shè)置限值并定義要在測試期間監(jiān)視的關(guān)鍵通道，以便在問題發(fā)生時(shí)立即知情。
• 將測試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在外部 USB 驅(qū)動(dòng)器或 PC 上，以確保重要數(shù)據(jù)不會(huì)丟失。
• 將 DAQ6510 編程為在斷電后重新啟動(dòng)，以便在晚上和周末期間將丟失測試時(shí)間降至小。

經(jīng)濟(jì)高效地測試低值電阻組件

使用 DAQ6510 準(zhǔn)確、可靠地測試電纜、低值電阻和連接器等組件。

特點(diǎn)

• 以 1µΩ 靈敏度進(jìn)行測量。
• 使用 4 線電阻功能消除測試引線電阻誤差。
• 使用偏移補(bǔ)償功能消除熱接觸誤差。

增強(qiáng)測試能力并提高吞吐量

使用 DAQ6510 可以增加單個(gè)測試系統(tǒng)的設(shè)備數(shù)量，并大限度提高測試能力。 利用 DAQ6510 縮短測量時(shí)間和加快掃描速率。

特點(diǎn)

• 多可將一個(gè)測試系統(tǒng)擴(kuò)展為具有 80 個(gè)設(shè)備的測試系統(tǒng)容量。
• 采用 0.0005 電源線周期積分時(shí)間進(jìn)行快速測量。
• 使用固態(tài)繼電器卡進(jìn)行大批量生產(chǎn)，并以高達(dá) 800 通道/秒的速率掃描 DUT。
• 通過使用 DAQ6510 的內(nèi)部 TSP 程序執(zhí)行流程，使 DAQ6510 執(zhí)行并控制測試，以大限度減少與 PC 的通信時(shí)間。