JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡

JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡

JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起，實現了高度穩定性和高分辨率，以精煉的外觀設計呈現。

   主要特點                                                                                                                                      

  裝置主體  

●  可配置Cs校正器和CFEG

●  高速高精度的stage，與現有的馬達驅動控制相比速度上提高了3倍，具備與Piezo驅動控制同等效力的微動控制能力。

 操作簡單  

●  即使TEM的操作經驗少也能直接操作設備

·   大量減少使用操作盤，直接按順序點擊顯示畫面上的按鈕就能得到最終的圖像

·   也可以用鼠標來進行調焦等操作

·   可以兼容GATAN CCD

●  自動調整功能

·   自動聚焦、自動調整樣品高度、自動電子束傳遞、自動定位等

JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡

 自動獲取數據的功能  

●  按照操作菜單可自動獲取數據

·   TEM像、STEM像、元素面分布

·   可以對應柵格上的多個樣品

  和測長軟件鏈接  

●  在TEM上設定倍率可以對其他倍率進行校正

·   可以對多臺JEM-ACE200F取得的數據自動測長

  遠程操作  

●  可在隔壁房間操作設備

●  遠程操作及多地同時觀察（依賴于網絡環境），可與多個事務所一邊討論一邊觀察  

 封閉鏡筒，使環境耐受性提高  

●  噪音、氣流、室溫變化得到了抑制

●  內壁裝有吸音材料，可進一步防噪音

從分析儀器到分析工具  

－STEM/TEM分析自動化、改進操作流程、品質管理穩定提高－