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STS8300模擬/混合IC測試系統產品特點
- “All-in-One", 所有模擬,數字資源裝于測試頭中;
- 針對高管腳數的模擬、混合信號及電源管理類器件進行多工位并行測試;
- 高模擬VI源/表通道能力,最多可支持500多個VI通道
- 高數字通道能力,128/256路數字通道 (用戶界面定義不同)
- 提供HardDocking的測試方案
- 提供與STS8200的Load Board兼容方案,并有程序轉換軟件工具
STS8300模擬/混合IC測試系統主要性能指標
資源 | 主要性能指標 |
FPVIe | 2通道浮動V/I源,每通道±100V/±200mA直流,±40V/±10A脈沖,4Kx16-Bit AWG,1MSPS 4Kx16-Bit 電壓和電流 Digitizer |
FOVIe | 8通道,每4路一組浮動V/I源,每通道±40V/±100mA直流,±1A脈沖,4Kx16-Bit AWG,200kSPS4Kx16-Bit電壓和電流Digitizer |
ACM | 24通道,每6路一組V/1源,每通道-2-+18V/±200mA直流,±500mA脈沖,4Kx16-Bit AWG,200kSPS 4Kx16-Bit 電壓和電流Digitizer |
HVIe | 單通道浮動V/I源,扇出2通道,1000V/±10mA,8Kx16-BitAWG,200kSPS 8Kx16Bit 電壓和電流 Digitizer |
QVMe | 4通道全浮動差分電壓表模塊每通道具備18-Bit1MSPS及12-Bit10MSPS Digitizer總失真度測量水平-90dB典型值每通道存儲深度64K |
QTMUe | 4通道時間測量模塊最大±50V電壓量程最大5ns-40s時間量程最高分辨率<30ps最高精度2nS+0.1%Rdg帶寬>50MHz每通道存儲深度64K |
DCM | 每模塊64通道每通道-1.5V-6V數字輸入/輸出最大測試速率33MHz(50MHz clock)每通道向量存儲器深度64M每通道PMU 功能,支持FVMV,FVMI,FIMV,FIMI模式,電流范圍±32mA每通道TMU功能(研發中) |
CBITe | 每模塊128位控制位提供+5V、+12V繼電器電源 |
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