QT-6000分立器件高速測(cè)試系統(tǒng)，適用于測(cè)試中小功率二三極管、場(chǎng)效應(yīng)管等產(chǎn)品及晶圓，可拓展內(nèi)置電容測(cè)試（DC+CAP）、EAS、VC、pA模塊，也可擴(kuò)展外掛LCR(超高精度電容測(cè)試)、Scanbox等，應(yīng)用于FT量產(chǎn)測(cè)試或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試。

QT-8400IPM智能功率模塊測(cè)試系統(tǒng)QT-8400IPM測(cè)試方案，滿足功率IPM模塊電參數(shù)性能測(cè)試

QT-8400PIM大功率動(dòng)靜態(tài)綜合測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于功率模塊 IGBT 或者 SIC，滿足 DC 和 AC動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試

QT-8600RF混合信號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)RF6G 測(cè)試模組，應(yīng)用于大功率輸出、諧波測(cè)試、開關(guān)時(shí)間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端回路、IP3、雜散測(cè)試

QT-8100HP模擬IC測(cè)試系統(tǒng)常規(guī) DC、AC 參數(shù)測(cè)試、分立器件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測(cè)試 主要測(cè)試：電源管理類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、高速光耦、運(yùn)放、小功率分立器件等

QT-8100數(shù)模混合IC測(cè)試系統(tǒng)適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試和混合類及模擬類IC器件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試：電源管理類，數(shù)碼消費(fèi)類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、運(yùn)放等。