歐林巴斯OLS5100 3D激光掃描顯微鏡適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測量精度和光學(xué)性能與智能工具相結(jié)合，讓顯微鏡更加方便使用。通過快速高效精確測量亞微米級形狀和表面粗糙度的可靠數(shù)據(jù)簡化您的工作流程。

自動光譜橢偏儀SENDUROSENDURO® 可測量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動掃描則實現(xiàn)了較高的樣品速度，化安裝工作量和低的維護成本。該光譜橢偏儀的自動掃描具有預(yù)定義或用戶定義的模式、允許廣泛的統(tǒng)計特性和數(shù)據(jù)圖形顯示。

安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀橢偏振動光譜 利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結(jié)合，可以輕易地確定單層膜和復(fù)合層疊膜的厚度和折射率。

安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀 SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm（深紫外）到3500 nm（近紅外）。傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用以分析厚度高達200μm的厚膜。

布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀無論是固體還是液體樣品，在工業(yè)環(huán)境中都能快速，符合人體工程學(xué)的安全處理樣品。

布魯克HD9800工業(yè)光學(xué)顯微鏡HD9800是專門用于硬盤行業(yè)磁頭滑塊測量的*的光學(xué)輪廓儀，用于對CCT和PTR的高速自動測量，監(jiān)控其復(fù)雜的加工工藝是否正常。

布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡ContourSP大面板計量系統(tǒng)擁有十多年的包裝計量專業(yè)知識，是上一代SP型號的高密度互連PCB（HDI-PCB）基板的測量吞吐量的兩倍以上。ContourSP專為在制造過程中測量PCB板的每一層而設(shè)計，并具有許多*功能，可為半導(dǎo)體封裝行業(yè)提供高的生產(chǎn)性能，便利性，可靠性和吞吐量。