日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡

主要特點(diǎn)                                                                                                                                      

外觀設(shè)計(jì)精煉

 精煉的外型，全新的視覺感受。

為分析型電鏡全新設(shè)計(jì)的GUI，使操作更加直觀方便。

JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗(yàn)在設(shè)計(jì)上得到了充分的體現(xiàn)，與舊機(jī)型相比，電鏡的機(jī)械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。

四級(jí)聚光鏡系統(tǒng)

現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)  —  從明場(chǎng) / 暗場(chǎng)的TEM成像到使用各種檢測(cè)器的STEM技術(shù)。

該設(shè)備采用新型四級(jí)聚光鏡照射光學(xué)系統(tǒng) —  “Quad-Lens condenser system"，通過分別控制電子束強(qiáng)度和匯聚角，能滿足各種研究的需求。

掃描系統(tǒng)

JEM-F200可以實(shí)現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析，該設(shè)備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上，增加了新的掃描系統(tǒng) — “Advanced Scan System" 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能（選配）。

皮米樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)

JEM-F200 采用能以皮米級(jí)步長移動(dòng)樣品臺(tái)的Pico stage drive（不用壓電驅(qū)動(dòng)），能在寬動(dòng)態(tài)范圍移動(dòng)視野，從樣品的整個(gè)柵網(wǎng)視野移動(dòng)到原子級(jí)圖像視野移動(dòng)都能進(jìn)行。

SpecPorter（自動(dòng)插入和拔出樣品桿的裝置）

對(duì)電鏡初學(xué)者來說，進(jìn)出樣品桿一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter使這一操作變得簡(jiǎn)單：將樣品桿安裝在的位置上，只用一個(gè)按鈕即能安全地插入或拔出。

改進(jìn)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍

JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍（選配），該槍的利用可以進(jìn)行EELS化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析，高亮度的電子束縮短了分析時(shí)間，并且還降低了來自光源的色差，實(shí)現(xiàn)了高分辨率的觀察。

雙能譜（SDD）

JEM-F200能同時(shí)安裝兩個(gè)大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測(cè)器（SDD）（選配件）。 憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對(duì)樣品的損傷更小。

環(huán)保節(jié)能

JEM-F200是第一個(gè)標(biāo)配了ECO模式的透射電子顯微鏡。

ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時(shí)的1/5，可以在裝置不運(yùn)行時(shí)，以最小的能耗保持著電鏡的最佳條件。

該設(shè)備具有排程功能，能在的時(shí)間將電鏡從ECO模式恢復(fù)到工作狀態(tài)。