日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡

日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡

JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統，還增加了最新的控制系統，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能，操作方便，簡明易懂，能在材料、醫學、生物學等多個研究領域提供優異的解決方案。

日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡主要特點                                                                                                                                      

操作性改進

最新操作軟件“TEM Center" 可在64位版本Windows®上運行，簡明易懂，適合初學者使用。

功能高度整合

通過整合TEM Center 和高清CCD相機（選配）及掃描透射圖像（BF/DF 像）觀察功能（選配），在TEM Center 圖形用戶界面上操作，更加簡單直觀。

豐富的用戶輔助功能

擁有豐富的用戶輔助功能（自動聚焦、自動襯度/亮度、自動曝光、自動圖像拼接、漂移校正、樣品臺導航功能等）。

 圖像瀏覽／編輯軟件

使用Viewer 軟件可以離線瀏覽／編輯圖像。

*Windows 為美國微軟公司的注冊商標。

   EDS 應用圖片                                                                                                                              

碳粉顆粒 （蘭和紅） @200kV，256 x 256 pixel

碳粉顆粒 （蘭和黑） @200kV，256 x 256 pixel