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ST2564高性能數字混合信號測試系統可以廣泛應用于S0C/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、ClS、指紋芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、loT等半導體晶圓、器件測試和模塊系統級測試。

eATE數模混合信號測試系統是加速科技新推出的一款集成數字集成電路測試功能的緊湊型可移動測試系統。系統支持50Mbps數據速率;業務功能板卡采用all-in-one設計模式，功能集成度高，體積小巧、簡潔輕便，性價比高，是小型芯片驗證的選擇。

ST7008無線綜合測試儀能夠支持Sub-6GHz多域并行測試，具有信號發送功能，能夠實現頻率、解調特性及頻譜特性等測試，對未來無線測試標準有優異的擴充性。

EN-3020B分立器件參數測試儀采用上位計算機控制，集點測試和曲線掃描為一體，可實現點參數測試和圖示儀功能。軟件操作界面友好智能，在 PC 窗口提示下輸入被測器件的測試參數即可完成填表編程，操作人員不需具備專業計算機編程語言知識，使用簡捷方便。操作軟件采用填入式編程方法，專為國內用戶開發。

ENJ2005-A半導體分立器件測試系統采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統內部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。

ENJ2005-B半導體分立器件測試系統，支持電流階梯升級至1250A。采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統內部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。

EN-3020C IGBT靜態參數測試系統針對 IGBT的靜態參數而研發的智能測試系統，功率3500V、1500A（可擴展），自動化程度高，按照操作人員設定的程序自動工作。計算機記錄測試結 果，測試結果可轉化為文本或EXCEL 格式存儲，工作時序、開關的動作狀態，數據采集等均由計算機和PLC共同完成。 測試方法靈活，可測試單個單元和多單元的模塊，系統安全穩定，人機界面友好，操作簡便。

EN-6500A IGBT動態參數測試系統，是針對IGBT 器件的開關特性及內部續流二極管的反向恢復特性而推出的全自動測試系統。適用于電流小于4500A，集電極電壓 小于6000V，續流 二極管正向電流小于4500A的IGBT 器件的特性參數測試。